|
EDX-9000S PLUS X射線熒光分析儀 全元素分析礦石分析儀![]()
收藏
商品說明
商品參數
儀器參數 元素分析范圍:氟(F)~鈾(U) 分析檢出限:最低可達0.2ppm(輕基體) 分析含量:ppm~99.99% 分析精確度:<0.05%(含量>96%以上樣品的主元素多次重復性測量RSD值) 探測器能量分辨率:SDD探測器,≤129eV X射線激發源:管壓5~50Kv、管流0~1000uA 高壓發生器:Spellman進口高壓 測試氛圍:大氣、真空、氦氣 樣品進樣系統:單位杯、9杯位(帶杯位自旋)、12杯位+單腔體、20杯位+單腔體(可選),采用PLC控制 任意多個可自動匹配或選擇的分析和識別模型 相互獨立的基體效應校正模型 多變量非線性回歸程序 溫度適應范圍:15°C-30C 電源:交流220V土5V,建議配置交流凈化穩壓電源 EDX-9000S PLUS 配置選擇 1.單位杯 2.自旋9杯位套餐(樣品杯可自旋,減少樣品均勻性誤差,粉末壓片等規則樣品。只有9杯位可選擇,不帶單腔切換功能) 3.12杯位套餐(不可自旋,應用測試對象:粉末壓片等規則樣品,單樣腔與多樣腔可切換) 4.20杯位套餐(20杯位不可自旋,應用測試對像:塑料顆粒、液體等樣品,單樣腔與多樣腔可切換) 應用領域 |